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  New?Imaging?Technologies用于半導(dǎo)體檢測(cè)的NIT成像解決方案 2022-03-11 17:09:27

  ?在過(guò)去的數(shù)年里，SWIR波段被公認(rèn)是半導(dǎo)體器件測(cè)試的最好波長(zhǎng)范圍之一。不論是晶圓或太陽(yáng)能發(fā)電板上的裂痕和缺陷，或是集成電路的故障分析，InGaAs波長(zhǎng)（900m-1700nm）成像設(shè)備主要用于透視硅內(nèi)部。

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  New?Imaging?Technologies經(jīng)濟(jì)高效的 SWIR 相機(jī)WiDy Sens 320 2021-09-24 14:38:27

  New?Imaging?Technologies?以其獨(dú)具特色的性能指標(biāo)和功能模塊、高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍，WiDy SenS相機(jī)是各種各樣應(yīng)用領(lǐng)域的完美結(jié)合。其640x、512像素分辨率為半導(dǎo)體或太陽(yáng)能電池板的檢驗(yàn)提供了舒適的視野。當(dāng)WiDySens640高動(dòng)態(tài)范圍可用作監(jiān)管增材制造過(guò)程時(shí)，純線性模式提供了作為光線診斷工具的專業(yè)能力。